Главная/ Оборудование/ Тестовое оборудование/ Тестеры функционального контроля/ Стенд для проверки полупроводниковых приборов UNIMET 1037
Тестовое оборудование · Тестеры функционального контроля · UNITES

Стенд для проверки полупроводниковых приборов UNIMET 1037

Артикул: UNIMET 1037 · Производитель: UNITES (Чехия) · Наличие: под заказ

UNIMET 1037 — лабораторная настольная тестовая система для контроля дискретных полупроводников: биполярных транзисторов, БТИЗ (IGBT), МОП-транзисторов, диодов, стабилитронов, триаков и тиристоров.

  • Диапазоны тестирования до 600 В / 100 А, опция HV07B до 2 кВ
  • Съёмный модуль TA37 совместим с M3000, UNIMET 3000 и UNIMET 2020
  • Разработка тестовых приложений методом Drag & Drop, без программирования
  • Мобильное настольное решение — без выделенной площади в лаборатории
Измерительная методика переносится между рабочими местами без перепрограммирования

Расширенные динамические измерения доступны с модулем TA37.TIM. Съёмный модуль TA37 совместим также с системами M3000, UNIMET 3000 и UNIMET 2020 — измерительная методика переносится между рабочими местами без перепрограммирования. Разработка тестовых приложений выполняется методом Drag & Drop, без программирования.

Особенности

  • Встроенная ПЛИС с преобразователями AD/DA и цифровой обработкой сигнала: тепловое сопротивление, динамическое сопротивление, tRR, tON, tOFF, tDELAY.
  • Мобильное настольное решение — не требует выделенной площади в лаборатории.
  • Совместимость с уже написанными тестами TA07D, T, F и Y.
  • Диапазоны тестирования: 20 В / 100 А, 600 В / 500 мА, 52 В / 1 А.
  • Расширение HV07B для тестирования до 2 кВ / 19,5 мА.

Контролируемые параметры

Диоды и стабилитроны Прямое напряжение VF, обратное напряжение VR, напряжение Зенера VZ, обратный ток утечки IR, динамическое сопротивление Rdyn (DC) и Rz (AC)
МОП-транзисторы Напряжение пробоя V(BR)DSS, напряжение обратного диода VSD, пороговое напряжение VGS, сопротивление открытого канала RDS(on), крутизна gfs, токи утечки IGSS, VDS(on), ID(on)
Биполярные транзисторы Напряжения пробоя VCEO(BR), VCBO, VEBO, напряжения насыщения VCE(sat), VBE(sat), обратные токи ICEO, ICBO, IEBO, усиление hfe (DC) и h21e (AC)
Тиристоры и симисторы Отпирающий ток управляющего электрода IGT, отпирающее напряжение VGT, ток утечки в закрытом состоянии IDO, ток срабатывания IL
Пример измерения динамических параметров
Пример измерения динамических параметров (tᵣᵣ)

Смотрите также

Похожее оборудование

Все модели раздела →

Нужен тестер полупроводниковых приборов?

Подберём конфигурацию UNIMET 1037 под номенклатуру компонентов и рассчитаем стоимость.

Контакты

Свяжитесь с нами

Адрес

305010, г. Курск, ул. Чапаева, д. 22А

Телефон

+7 (499) 653-80-83

Режим работы

Пн–Пт: 9:00–18:00

Оставить заявку

Ответим на вопросы по подбору и наличию оборудования в течение рабочего дня.