X

Новости

Поделиться

С друзьями в соц.сетях

Тестер микросхем




Универсальные контрольно-измерительные стенды для функционального и параметрического контроля СБИС.

Область применения Тестера — испытания и контроль качества на всех стадиях жизненного цикла СБИС, включая:

  • Испытания и исследования вновь разработанных типов СБИС
  • Производственные и приемочные испытания серийной продукции: квалификационные, периодические, выбраковочные, приемо-сдаточные
  • Сертификационные испытания
  • Входной контроль

ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ



Тестеры позволяют проводить достоверные измерения СБИС широкой номенклатуры, включая Системы на кристалле (СнК) и микросхемы смешанного сигнала, а также все виды современных ЗУ.

СБИС, включающие процессорные ядра, блоки памяти, программируемой логики, периферийных устройств, аналоговые компоненты, АЦП и ЦАП.

Ключевые технические характеристики Тестера определяются следующими величинами:

  • Количество универсальных двунаправленных каналов — до 1024
  • Частота функционального контроля до 550 МГц
  • Опорная частота прецизионного генератора — 1200 МГц
  • Память векторов/ошибок — до 128 М/128 М векторов
  • Блок аналоговых измерений — 1200 МПс/24 бит